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HREM

Philips XL30 FEG

Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (HREM) mit EDX (Energiedispersive Röntgenspektroskopie), EDAX Genesis und Electron Backscatter Diffraction (EBSD), EDAX.

Gerätespezifikationen

Detektoren SE und BSE
Auflösung (SE) bis zu 2 nm
EDX System EDAX Genesis mit Flüssigstickstoff gekühltem herkömmlichem Si(Li)-Typ Detektor, Energieauflösung (~136eV)
Electron Backscatter Diffraction (EBSD) System