Materials- and Geosciences
Competence Centre for Materials Characterisation
Spectroscopic Ellipsometer M-2000
Spectroscopic Ellipsometer M-2000® with Auto-Angle ESM-300 Base (CompeteEASE® Software) (J.A. Woollam, Lincoln, United States)
Thermisches Analysegerät STA 449F3
Thermisches Analysegerät STA 449F3 Jupiter mit Massenspektrometrie-Kopplung (Netzsch Gerätebau GmbH, Selb)